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Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability - Characterization and Modeling of D…
2021 Gebunden, 336 Seiten, 241mm x 160mm x 24mm, Sprache(n): eng Covers characterization methods, modelling techniques, and impact of device architectures and processesEstablishes accurate modelling of measured degradation for wide variety of MOSFET architecturesHelps in determination of degrada…
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Anbieter: MARZIES Buch- und Medienhandel, Schönwalde-Glien, Deutschland
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- ISBN / EAN
- 9789811661198
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