Nanometer Variation-Tolerant SRAM - Circuits and Statistical Design for Yield
von Mohab Anis, Mohamed Abu Rahma
2014 Kartoniert, 188 Seiten, 235mm x 155mm x 11mm, Sprache(n): eng Provides comprehensive review of state-of-the-art, variation-tolerant SRAM circuit techniques Discusses Impact of device related process variations and how they affect circuit and system performance, from a design point of view…
121,78 EUR
Nanometer Variation-Tolerant SRAM - Circuits and Statistical Design for Yield
von Mohab Anis, Mohamed Abu Rahma
2012 Gebunden, 188 Seiten, 241mm x 160mm x 14mm, Sprache(n): eng Provides comprehensive review of state-of-the-art, variation-tolerant SRAM circuit techniquesDiscusses Impact of device related process variations and how they affect circuit and system performance, from a design point of viewHelps…
121,78 EUR
Nanometer Variation-Tolerant SRAM - Circuits and Statistical Design for Yield
von Mohamed Abu Rahma Verlag: Springer US,
2012 2012. Buchschnitt verkürzt - gepflegter, sauberer Zustand - Ausgabejahr 2013 22513677/12
- Sonderaktion: 10% Rabatt bis 04.07.2024
85,40 EUR
76,86 EUR
- Autor
- Mohamed Abu Rahma
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