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Developing High-Finesse Cavities for Phase Contrast Electron Microscopy
von Kevin Li, Brian Lai, Andrew Lee
2015 Kartoniert, 28 Seiten, 210mm x 148mm x 3mm, Sprache(n): eng Research Paper (postgraduate) from the year 2014 in the subject Physics - Optics, University of California, Berkeley , language: English, abstract: The transmission electron microscope is an indispensable tool in science, with appl…
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Anbieter: MARZIES Buch- und Medienhandel, Schönwalde-Glien, Deutschland
17,95 EUR
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- Autor
- Brian Lai
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