Ihr Marktplatz für antiquarische und neue Bücher | Login | Neu registrieren Registrieren
Buchfreund als App
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
Bild 1 von 1

Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections

2011 - Erschienen 2011.

Produktart:
📚 Bücher
Autor(en):
Tan, Cher Ming, Wei Li und Zhenghao Gan:
Anbieter:
Buchpark GmbH
Bestell-Nr.:
995246312
Katalog:
Varia
ISBN:
0857293095
EAN:
9780857293091
Stichworte:

Reliability, Physics, Stress-induced, Voiding, Finite, Element, Method, ULSI, Interconnect, quality, control, reliability, safety, risk, partial, differential, equations, Electromigration

Angebotene Zahlungsarten
Vorauskasse, PayPal
gebraucht, sehr gut 13,81 EUR 12,43 EUR Kostenloser Versand
Sonderaktion: 10% Rabatt bis 11.06.2024

Ähnliche Bücher, die interessant für Sie sein könnten Autor: Wei Li Cher Ming Tan, Zhenghao Gan Verlag: Springer London,

Sparen Sie Versandkosten bei Buchpark GmbH durch den Kauf weiterer Artikel