Neuware
Beispielbild für diese ISBNScanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional M…
2005 Gebunden, 528 Seiten, 241mm x 160mm x 33mm, Sprache(n): eng As the characteristic dimensions of electronic devices continue to shrink, the ability to characterize their electronic properties at the nanometer scale has come to be of outstanding importance. In this sense, Scanning Probe Micro…
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Anbieter: MARZIES Buch- und Medienhandel, Schönwalde-Glien, Deutschland
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- ISBN / EAN
- 9781402030178
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