Neuware
Beispielbild für diese ISBNScanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional M…
2005 Gebunden, 528 Seiten, 241mm x 160mm x 33mm, Sprache(n): eng As the characteristic dimensions of electronic devices continue to shrink, the ability to characterize their electronic properties at the nanometer scale has come to be of outstanding importance. In this sense, Scanning Probe Micro…
Neuware
Anbieter: MARZIES Buch- und Medienhandel, Schönwalde-Glien, Deutschland
365,35 EUR
Kostenloser Versand
Nichts passendes gefunden?
- ISBN / EAN
- 9781402030178
Link zur Suche kopieren
Speichern Sie Ihre Suche als Auftrag für einen späteren Zeitpunkt und lassen Sie sich bei neu eintreffenden Artikeln automatisch per E-Mail benachrichtigen (optional)!