Elektronenmikroskopie : Grundlagen - Methoden - Anwendungen.
von John W. Heckman Stanley L. Flegler Verlag: Heidelberg ; Berlin ; Oxford : Spektrum, Akad. Ve…
1995. gebundene Ausgabe VIII, 279 S. : Ill., graph. Darst. ; Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sehr sauber. Es befindet sich neben dem Rückenschild lediglich ein Bibliotheksstempel im Buch; ordnungsgemäß entwidmet.
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- ISBN / EAN
- 9783860253410
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