Mikroprozessorsysteme - Zuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz
von R. Hedtke
1983 Kartoniert, 216 Seiten, 244mm x 170mm x 12mm, Sprache(n): ger Mit dem Einzug der Mikroelektronik in fast aile Bereiche des taglichen Lebens muB die altbekannte Tatsache, daB samtliche elektronische Systeme Fehler aufweisen kcxmen starker berucksichtigt werden. Dos Zuverlassigkeitsproblem is…
Mikroprozessorsysteme : Zuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz.
von Rolf Hedtke Verlag: Berlin ; Heidelberg ; New York ; Tokyo : Springer,
1984. Broschiert. 203 S. : graph. Darst. 25 cm. Einband leicht berieben. Stempel auf Titelei, ansonsten sehr gut erhalten. ISBN: 9783540129967
Mikroprozessorsysteme - Zuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz
von R Hedtke Verlag: Springer Berlin,
1984. Softcover 206 S. Ehem. Bibliotheksex. m. Stempel und Rückensign. Vereinzelte kleinere Anstreichungen und Marginalien möglich, ansonsten textsauberes Exemplar in gutem Zustand. 9783540129967
- ISBN / EAN
- 9783540129967
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