Beispielbild für diese ISBNPost-Silicon Validation and Debug
Verlag: Springer
2018 Gebunden, 412 Seiten, 241mm x 160mm x 28mm, Sprache(n): eng Provides a comprehensive overview of the SoC post-silicon validation and debug challengesCovers state-of-the-art techniques for developing on-chip debug infrastructureDescribes automated techniques for generating post-silicon tests…
179,75 EUR
Beispielbild für diese ISBNPost-Silicon Validation and Debug
Verlag: Springer
2018 Kartoniert, 412 Seiten, 235mm x 155mm x 23mm, Sprache(n): eng Provides a comprehensive overview of the SoC post-silicon validation and debug challenges Covers state-of-the-art techniques for developing on-chip debug infrastructure Describes automated techniques for generating post-silicon…
131,81 EUR
Beispielbild für diese ISBNDesign for Testability, Debug and Reliability - Next Generation Measures Using Formal Techniques
von Sebastian Huhn, Rolf Drechsler Verlag: Springer
2022 Kartoniert, 188 Seiten, 235mm x 155mm x 11mm, Sprache(n): eng Provides readers with a combination of a comprehensive set of formal techniques covering and enhancing different aspects of the state-of-the-art design and test flow for ICsIntroduces newly developed heuristic, formal optimizatio…
133,95 EUR
Beispielbild für diese ISBNDesign for Testability, Debug and Reliability - Next Generation Measures Using Formal Techniques
von Sebastian Huhn, Rolf Drechsler Verlag: Springer
2021 Gebunden, 188 Seiten, 241mm x 160mm x 16mm, Sprache(n): eng Provides readers with a combination of a comprehensive set of formal techniques covering and enhancing different aspects of the state-of-the-art design and test flow for ICsIntroduces newly developed heuristic, formal optimization-…
133,95 EUR
Design for Testability, Debug and Reliability - Next Generation Measures Using Formal Techniques
von Sebastian Huhn Verlag: Springer International Publishing,
2021. Gebrauchs- und Lagerspuren. AuÃ?en: angestoÃ?en. 37408851/3
- Sonderaktion: 10% Rabatt bis 05.11.2026
90,94 EUR
81,85 EUR
IBM OLIVER (CICS Interactive Test/debug) - Debugging, List of toolkits, IBM System/360
Verlag: OmniScriptum
2026 Kartoniert, 116 Seiten, 220mm x 150mm x 7mm, Sprache(n): eng
168,00 EUR
Embedded System Debug Plug- in for Eclipse - Embedded Java, Embedded Hyperviso, Embedded Board eXp…
Verlag: OmniScriptum
2026 Kartoniert, 136 Seiten, 220mm x 150mm x 9mm, Sprache(n): eng
193,84 EUR
Anxiety: Debug It Don`t Drug It
von Catchpole Michael Verlag: Rutherford Press,
2019. Taschenbuch, Größe: 17 x 1.1 x 24.4 cm 210 Seiten Gepflegter, sauberer Zustand. 34605787/2
- Sonderaktion: 10% Rabatt bis 05.11.2026
8,48 EUR
7,63 EUR
Beispielbild für diese ISBNDebug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
von Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey Verlag: Springer
2016 Kartoniert, 188 Seiten, 235mm x 155mm x 10mm, Sprache(n): eng Describes a unified framework for debug automation that is used at both pre-silicon and post-silicon stages Provides approaches for debug automation of a hardware system at different levels of abstraction, i.e., chip, gate-level…
59,91 EUR
Beispielbild für diese ISBNDebug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
von Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey Verlag: Springer
2014 Gebunden, 188 Seiten, 241mm x 160mm x 16mm, Sprache(n): eng Describes a unified framework for debug automation that is used at both pre-silicon and post-silicon stagesProvides approaches for debug automation of a hardware system at different levels of abstraction, i.e., chip, gate-level, RT…
![Burg Querfurt. - [Aufnahmen: Sigrid Schütze-Rodemann und Gert Schütze] / Große Baudenkmäler ; H. 436 : Denkmal an der Strasse der Romanik in Sachsen-Anhalt](/produkt-vorschau-bild/79458483/450/290/burg-querfurt.jpg?dataSource=1)