Auswertung eines A/D-Wandler-Parameters

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Das Testen des OEZA ist eine wichtige Aktivität, die die Hauptrolle bei der Entscheidung über die Genauigkeit eines Systems spielt. Viele Anwendungen beobachten die Messung mit ADC. Diese Anwendung bringt eine hohe Genauigkeit und Auflösung mit sich, die durch den dynamischen Bereich des Signals gewährleistet wird. Die Werte der ADC-Parameter können in Zukunft durch Erhöhung der Anzahl der Abtastwerte, der Frequenz und der Übersteuerung verbessert werden. Der Testalgorithmus kann für die experimentelle ADC-Echtzeitanalyse angewendet werden. Modifizierter Code-Dichte-Algorithmus, der die Auswirkungen von Fehlern auf die Histogrammdaten reduziert. Dieser Algorithmus kann die gleiche Genauigkeit wie der herkömmliche Code-Dichte-Algorithmus erreichen, jedoch mit einer wesentlich geringeren Anzahl von Abtastwerten, was eine kürzere Testzeit und geringere Testkosten bedeutet. Die neue Methode ist sehr effizient und kann verwendet werden, um das Testen von hochauflösenden ADCs mit besserer Abdeckung zu ermöglichen und die Zeit und Kosten für das Testen von ADCs mittlerer Auflösung zu reduzieren. Dieses Buch wurde mit künstlicher Intelligenz übersetzt.

Dr. MANISH JAIN Associate Professor, EEE Department, Mandsaur University, Mandsaur (M.P.) obtained PhD in 2015 in ECE. He has published more than 30 papers in International journal and listed in IEEE conference Proceedings. Under his guidance Student projects have been sanctioned for Financial Assistance by Department of Science & Technology (DST)