Thermal testing of integrated circuits.
von Josep Altet Verlag: Boston, Mass., Kluwer Acad. Publ,
2002. Hardcover 204 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. 9781402070761
28,31 EUR
Beispielbild für diese ISBNThermal Testing of Integrated Circuits
von Antonio Rubio, J. Altet
2002 Gebunden, 220 Seiten, 241mm x 160mm x 18mm, Sprache(n): eng Integrated circuits (IC's) have undergone a significant evolution in terms of complexity and performance as a result 'of the substantial advances made in manufacturing technology. Circuits, in their various mixed formats, can be ma…
121,78 EUR
Thermal Testing of Integrated Circuits
von J. Altet Verlag: Springer US,
2002 2002. Gebrauchs- und Lagerspuren. AuÃ?en: verschmutzt, angestoÃ?en. Innen: Seiten eingerissen. 1432620/3
- Sonderaktion: 10% Rabatt bis 11.06.2024
64,99 EUR
58,49 EUR
- ISBN / EAN
- 9781402070761
Speichern Sie Ihre Suche als Auftrag für einen späteren Zeitpunkt und lassen Sie sich bei neu eintreffenden Artikeln automatisch per E-Mail benachrichtigen (optional)!