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Horiguchi, Masashi; Itoh, Kiyoo

Nanoscale Memory Repair (Gebundene Ausgabe)


Reihe: Series on Integrated Circuits and Systems

Springer-Verlag GmbH, Springer US, Februar 2011


215 S. - Sprache: Englisch - 100 schwarz-weiße Abbildungen - 243x164x22 mm Book

ISBN: 1441979573 EAN: 9781441979575

Yield and reliability of memories have degraded with device and voltage scaling in the nano-scale era, due to ever-increasing hard/soft errors and device parameter variations. This book systematically describes these yield and reliability issues in terms of mathematics and engineering, as well as an array of repair techniques, based on the authors' long careers in developing memories and low-voltage CMOS circuits. Nanoscale Memory Repair gives a detailed explanation of the various yield models and calculations, as well as various, practical logic and circuits that are critical for higher yield and reliability.


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Produktdetails

Presents the first comprehensive reference to reliability and repair techniques for nano-scale memoriesCovers both the mathematical foundations and engineering applications of yield and reliability in nano-scale memoriesIncludes a variety of practical circuits and logic, critical for higher yield and reliability, which have been proven successful during the authors' extensive experience in developing memories and low-voltage CMOS circuits

Inhaltsverzeichnis

An Introduction to Repair Techniques: Basics of Redundancy.- Basics of Error Checking and Correction.- Comparison between Redundancy and ECC.- Repairs of Logic Circuits.- Redundancy: Models of Fault Distribution.- Yield Improvement through Redundancy.- Replacement Schemes.- Intra-Subarray Replacement.- Inter-Subarray Replacement.- Subarray Replacement.- Devices for Storing Addresses.- Testing for Redundancy.- Error Checking and Correction: Linear Algebra and Linear Codes.- Galois Field.- Error-Correcting Codes.- Coding and Decoding Circuits.- Theoretical Reduction in Soft-Error and Hard-Error Rates.- Application of ECC.- Testing for ECC.- Synergistic Effect of Redundancy and ECC: Repair of Bit Faults using Synergistic Effect.- Application of Synergistic Effect.


ISBN 1-441979-57-3, ISBN 1-44-197957-3, ISBN 1-44197-957-3, ISBN 1-441-97957-3, ISBN 1-4419-7957-3

ISBN 978-1-441979-57-5, ISBN 978-1-44-197957-5, ISBN 978-1-44197-957-5, ISBN 978-1-441-97957-5, ISBN 978-1-4419-7957-5

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