Nanobeam X-Ray Scattering: Probing Matter at the Nanoscale
von Julian Stangl Verlag: Wiley-VCH
2013. Gebundene Ausgabe 284 Seiten; 9783527410774.2
gebraucht, sehr gut
Anbieter: Studibuch GmbH, Stuttgart, Deutschland
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- ISBN / EAN
- 9783527410774
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