Ihr Marktplatz für antiquarische und neue Bücher | Login | Neu registrieren Registrieren
Buchfreund als App

Nanobeam X-Ray Scattering: Probing… - 9783527410774 (ISBN)

(1 Ergebnisse)
ISBN / EAN
9783527410774
ISBN: 9783527410774
Diese Suche speichern
Nanobeam X-Ray Scattering: Probing Matter at the Nanoscale

Nanobeam X-Ray Scattering: Probing Matter at the Nanoscale

von Julian Stangl Verlag: Wiley-VCH

2013. Gebundene Ausgabe 284 Seiten; 9783527410774.2

gebraucht, sehr gut
Bestell-Nr.: 360819
ISBN: 3527410775
Anbieter: Studibuch GmbH, Stuttgart, Deutschland

Verkäufer akzeptiert PayPal
Verkäufer akzeptiert PayPal

12,55 EUR

Kostenloser Versand
Nichts passendes gefunden?
ISBN / EAN
9783527410774
Link zur Suche kopieren

Speichern Sie Ihre Suche als Auftrag für einen späteren Zeitpunkt und lassen Sie sich bei neu eintreffenden Artikeln automatisch per E-Mail benachrichtigen (optional)!