Lock-in Thermography - Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
von Otwin Breitenstein Verlag: Springer Berlin,
2nd ed. 2010 2010. Neubindung, Buchschnitt leicht verkürzt, Buchrücken, -ecken, -kanten leicht angestoßen, 2. Auflage 2010 5495105/12
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Lock-in Thermography - Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
von Otwin Breitenstein, Martin Langenkamp, Wilhelm Warta
2010 Gebunden, 268 Seiten, 241mm x 160mm x 23mm, Sprache(n): eng Only book in the market on this highly sensitive infrared measurement methodExplains the basics and applications of this analytical techniqueA reference work for researchers and engineers alikeIncludes supplementary material: sn.pu…
121,78 EUR
- ISBN / EAN
- 9783642024160
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