Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon
von Peter Pichler Verlag: Springer Wien,
2004 2004. Neubindung, Buchschnitt leicht verkürzt, Backcover leicht gedrückt 1601296/12
gebraucht, sehr gut
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- ISBN / EAN
- 9783211206874
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