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Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
2014 Gebunden, 528 Seiten, 241mm x 160mm x 34mm, Sprache(n): eng Describes the intricacies of hot carrier degradation in modern semiconductor technologiesCovers the entire hot carrier degradation phenomenon, including topics such as characterization, carrier transport, carrier-defect interaction…
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Anbieter: MARZIES Buch- und Medienhandel, Schönwalde-Glien, Deutschland
119,83 EUR
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- ISBN / EAN
- 9783319089935
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