High-Resolution X-Ray Scattering - From Thin Films to Lateral Nanostructures
von Ullrich Pietsch Verlag: Springer US,
2nd ed. 2004 2004. Gepflegter, sauberer Zustand. 2. Auflage. Innen: Seiten eingerissen. 1634323/2
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- ISBN / EAN
- 9780387400921
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