Neuware
Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
von Patrick Echlin
2009 Gebunden, 344 Seiten, 260mm x 183mm x 27mm, Sprache(n): eng Identifies problems that all specimens present in examining their structure and analysis in the SEMDescribes a series of protocols to ensure that a specimen is properly prepared once the particular problems are identifiedGuides the…
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Anbieter: MARZIES Buch- und Medienhandel, Schönwalde-Glien, Deutschland
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- ISBN / EAN
- 9780387857305
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