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Fundamentals of Bias Temperature I… - 9788132225072 (ISBN)

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ISBN / EAN
9788132225072
ISBN: 9788132225072
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Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors  - Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors - Characterization Methods, Proces…

von Souvik Mahapatra Verlag: Springer India,

1st ed. 2015 2015. Gepflegter, sauberer Zustand. Außen: Buchschnitt verkürzt. 25686754/12

gebraucht, sehr gut
Bestell-Nr.: 2568675412
ISBN: 8132225074
Anbieter: Buchpark GmbH, Trebbin, Deutschland

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Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors  - Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors - Characterization Methods, Proces…

2015 Gebunden, 288 Seiten, 241mm x 160mm x 21mm, Sprache(n): eng Provides a comprehensive resource covering characterization methods, modeling techniques and gate insulator process dependence of BTIAccurately establishes the physical mechanism of BTI, accurate modeling of measured degradation fo…

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Bestell-Nr.: A24848681
ISBN: 8132225074
Anbieter: MARZIES Buch- und Medienhandel, Schönwalde-Glien, Deutschland

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