Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors - Characterization Methods, Proces…
von Souvik Mahapatra Verlag: Springer India,
1st ed. 2015 2015. Gepflegter, sauberer Zustand. Außen: Buchschnitt verkürzt. 25686754/12
gebraucht, sehr gut
Anbieter: Buchpark GmbH, Trebbin, Deutschland
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Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors - Characterization Methods, Proces…
2015 Gebunden, 288 Seiten, 241mm x 160mm x 21mm, Sprache(n): eng Provides a comprehensive resource covering characterization methods, modeling techniques and gate insulator process dependence of BTIAccurately establishes the physical mechanism of BTI, accurate modeling of measured degradation fo…
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Anbieter: MARZIES Buch- und Medienhandel, Schönwalde-Glien, Deutschland
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- ISBN / EAN
- 9788132225072
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