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Fundamentals of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
von Ronald Reifenberger
2015 Kartoniert, 342 Seiten, 229mm x 152mm x 18mm, Sprache(n): eng The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution. The intelligent use of this instrument requires knowledge fro…
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Anbieter: MARZIES Buch- und Medienhandel, Schönwalde-Glien, Deutschland
71,07 EUR
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- ISBN / EAN
- 9789814630351
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