From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss - Simulation and Applications
von Jitendra B. Khare Verlag: Springer US,
1996 1996. Gepflegter, sauberer Zustand. Au�en: verschmutzt. Aus der Auflösung einer renommierten Bibliothek. Kann Stempel beinhalten. 3022620/202
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss - Simulation and Applications
von Wojciech Maly, Jitendra B. Khare
1996 Gebunden, 172 Seiten, 241mm x 160mm x 16mm, Sprache(n): eng Over the years there has been a large increase in the functionality available on a single integrated circuit. This has been mainly achieved by a continuous drive towards smaller feature sizes, larger dies, and better packing effici…
121,78 EUR
- ISBN / EAN
- 9780792397144
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