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Quelle: Wikipedia (Herausgeber)

Elektronenmikroskopie Elektronenoptik, Elektronenmikroskop, Rasterelektronenmikroskop, Transmissionselektronenmikroskop, Elektronenbeugung, Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie, Environmental Scanning Electron Microscope, Elektronenquelle (Kartoniert / Broschiert / Paperback)

Books LLC, Reference Series, Juni 2012


30 S. - Sprache: Deutsch - 245x190x10 mm Paperback

ISBN: 1158955693 EAN: 9781158955695

Quelle: Wikipedia. Seiten: 30. Kapitel: Elektronenoptik, Elektronenmikroskop, Rasterelektronenmikroskop, Transmissionselektronenmikroskop, Elektronenbeugung, Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie, Environmental Scanning Electron Microscope, Elektronenquelle, Rastertransmissionselektronenmikroskop, Feldemission, Sekundärelektronenmikroskop, Emittanz, Kryoelektronentomographie, Niederenergetisches Elektronenmikroskop, Atomsonde, Feldelektronenmikroskop, Kikuchi-Linien, Energiegefilterte Transmissionselektronenmikroskopie, Electron Backscatter Diffraction, Elektronenstrahlmikroanalyse, Boersch-Effekt, Sekundäremission, Ultradünnschnitt, Everhart-Thornley-Detektor, Euzentrische Höhe, Elektronenholographie, Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie. Auszug: Ein Elektronenmikroskop ist ein Mikroskop, welches das Innere oder die Oberfläche eines Objekts mit Elektronen abbilden kann. Da schnelle Elektronen eine sehr viel kleinere Wellenlänge als sichtbares Licht haben (¿Materiewelle) und das Auflösungsvermögen eines Mikroskops durch die Wellenlänge begrenzt ist, kann mit einem Elektronenmikroskop eine deutlich höhere Auflösung (derzeit etwa 0,1 nm) erreicht werden als mit einem Lichtmikroskop (etwa 200 nm). Während bei optischen Mikroskopen die Auflösung tatsächlich nahezu die von der Lichtwellenlänge gesetzte physikalische Grenze erreicht, verschlechtern bei Elektronenmikroskopen die Aberrationen der elektronenoptischen Bauteile die nutzbare Auflösung um etwa zwei Größenordnungen gegenüber der Elektronenwellenlänge, die für 100 keV Elektronenenergie etwa 0,0037 nm beträgt. Bei der Interpretation der mit Elektronenmikroskopen erhaltenen Daten, besonders von Abbildungen, muss immer berücksichtigt werden, wie die Signale entstehen, um keine fehlerhaften Schlüsse zu ziehen. Die Hauptbestandteile eines Elektronenmikroskops sind: Elektronenmikroskope lassen sich nach zwei grundsätzlichen Gesichtspunkten einteilen. Die zweite Einteilungsmöglichkeit bezieht sich auf die Geometrie der Anordnung. Die Kombination der genannten Einteilungen liefert folgende Matrix (die bei weitem häufigsten Typen sind fett gesetzt): Die nach der Anzahl von installierten Geräten häufigsten Elektronenmikroskope sind die REM/SEM, gefolgt von TEM. Noch weniger findet man STEM, wobei aber häufig der STEM-Modus als Betriebsart in TEM möglich ist, reine STEM-Geräte (engl. ) sind ausgesprochen selten. Reflexionsmikroskope sind nur als Laborbauten in einigen Instituten zu finden, aber nicht kommerziell erhältlich. Die Reflexionsmikroskopie, d. h. elektronenoptische Abbildung von Oberflächen, wird beispielsweise bei Kurzzeitexperimenten, bei denen der Elektronenstrahl nur für sehr kurze Zeiten zur Verfügung steht, eingesetzt; die kurze Zeitspanne würde nicht


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