Digital Noise Monitoring of Defect Origin
von Telman Aliev Verlag: Springer US,
2007 2007. Neubindung, Buchschnitt leicht verkürzt, 1. Auflage 2007 3625251/12
gebraucht, sehr gut
Anbieter: Buchpark GmbH, Trebbin, Deutschland
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- ISBN / EAN
- 9780387717531
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