Data-Driven Fault Detection for Industrial Processes - Canonical Correlation Analysis and Projecti…
von Zhiwen Chen Verlag: Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH,
1st ed. 2017 2017. 210 x 148 mm 112 Seiten Nur minimale Lagerspuren. 9783658167554
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- ISBN / EAN
- 9783658167554
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