‹ zurück Sie sind hier:  Startseite » Buchhändler » MARZIES.de Buch- und Medienhan… » Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces

Linksbuch Neu neu Rechtsbuch

Walkosz, Weronika

Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces (Gebundene Ausgabe)


Reihe: Springer Theses

Springer-Verlag GmbH, Springer US, Mai 2011


106 S. - Sprache: Englisch - 17 schwarz-weiße und 24 farbige Abbildungen, 2 schwarz-weiße Tabellen - 246x164x15 mm

ISBN: 144197816X EAN: 9781441978165

This thesis presents results from a combined atomic-resolution Z-contrast and annular bright-field imaging and electron energy loss spectroscopy in the Scanning Transmission Electron Microscopy, as well as first principles studies of the interfaces between crystalline ?-Si3N4 and amorphous (i) CeO2-x as well as (ii) SiO2 intergranular film (IGF).? These interfaces are of a great fundamental and technological interest because they play an important role in the microstructural evolution and mechanical properties of Si3N4 ceramics used in many high temperature and pressure applications.? The main contribution of this work is its detailed description of the bonding characteristics of light atoms, in particular oxygen and nitrogen, at these interfaces, which has not been achieved before.? The atomic-scale information on the arrangement of both light and heavy atoms is critical for realistic modeling of interface properties, such as interface strength and ion transport, and will facilitate increased control over the performance of ceramic and semiconductor materials for a wide-range of applications.


Preis: 128,39 EUR
Versandkosten: 0,00 EUR
Gesamtpreis: 128,39 EUR
In den Warenkorb

Anbieter: MARZIES.de Buch- und Medienhan… (Impressum/Lieferzeit)
Katalog: HC/Maschinenbau/Fertigungstechnik

Angebotene Zahlungsarten: Vorauskasse
Transparente Bestellabwicklung - Verkäufer nutzt Order-Control - klicken für mehr Information
Transparente Bestellabwicklung -
Verkäufer nutzt Order-Control

 

Produktdetails

Nominated as an outstanding contribution by the University of Illinois - Chicago Offers fundamental results which influence many high temperature and pressure applications Provides findings to offer increased control over the performance of ceramic and semiconductor materials

Inhaltsverzeichnis

Silicon Nitride Ceramics.- Theoretical Methods and Approximations.- Overview of Experimental Tools.- Structural Energetics of ?-Si3N4 (1010) Surfaces.- Atomic Resolution Study of the Interfacial Bonding at SI3N4/CEO2-? Grain Boundaries.- Atomic Resolution Study of ?-Si3N4/ SIO2 Interfaces.- Imagine Bulk a -SI3N4.- Conclusions and Future Work.- Appendices.- Cited Literature.


ISBN 1-441978-16-X, ISBN 1-44-197816-X, ISBN 1-44197-816-X, ISBN 1-441-97816-X, ISBN 1-4419-7816-X

ISBN 978-1-441978-16-5, ISBN 978-1-44-197816-5, ISBN 978-1-44197-816-5, ISBN 978-1-441-97816-5, ISBN 978-1-4419-7816-5

Buch empfehlen Buch empfehlen
Sparen Sie Versandkosten beim Kauf weiterer Artikel dieses Buchhändlers.

Active Terahertz Metamaterial for Biomedical Applications von Choudhury, Balamati; Menon, Arya; Jha, Rakesh Mohan
59,99 EUR

Proceedings of the International Conference on Research and Innovations in Mechanical Engineering IC von Khangura, Sehijpal Singh (Herausgeber); Singh, Paramjit (Herausgeber); Singh, Harwinder (Herausgeber
267,49 EUR
Meine zuletzt angesehenen antiquarischen und neue Bücher
Meine letzten Buch Suchanfragen
    Noch keine Suchanfragen vorhanden.

© 2003 - 2018 by whSoft GmbH
Entdecken Sie außerdem: Antiquariatsportal · Achtung-Bücher.de · Booklink · Buchhai - Bücher Preisvergleich
Alle genannten Preise sind Bruttopreise und enthalten, soweit nicht anders vom Verkäufer angegeben, die gesetzliche Umsatzsteuer.