Atom Probe Tomography - Analysis at the Atomic Level
von Michael K. Miller
2000 Gebunden, 260 Seiten, 257mm x 170mm x 21mm, Sprache(n): eng The microanalytical technique of atom probe tomography (APT) permits the spatial coordinates and elemental identities of the individual atoms within a small volume to be determined with near atomic resolution. Therefore, atom probe…
182,67 EUR
Atom Probe Tomography - Analysis at the Atomic Level
von Michael K Miller Verlag: Springer US,
2000 2000. Gepflegter, sauberer Zustand. Außen: verschmutzt. Innen: Seiten verschmutzt. Aus der Auflösung einer renommierten Bibliothek. Kann Stempel beinhalten. 3027122/202
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86,55 EUR
77,89 EUR
- ISBN / EAN
- 9780306464157
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