Neuware
Atom Probe Microscopy
von Baptiste Gault, Simon P. Ringer, Julie M. Cairney, Michael P. Moody
2012 Gebunden, 420 Seiten, 241mm x 160mm x 27mm, Sprache(n): eng Provides the most practical, up-to-date and critical review of atom probe microscopy techniquesPresents a detailed description of the analysis toolsIncludes practical examples of how the technique can be used in materials science r…
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Anbieter: MARZIES Buch- und Medienhandel, Schönwalde-Glien, Deutschland
280,10 EUR
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- ISBN / EAN
- 9781461434351
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