Neuware
Applied Scanning Probe Methods XI - Scanning Probe Microscopy Techniques
2008 Gebunden, 292 Seiten, 241mm x 160mm x 21mm, Sprache(n): eng Title is also available as part of a set: Applied Scanning Probe Methods (978-3-540-88823-9)¿The ability to accurately and reproducibly measure the properties and perf- mance characteristics of nanoscale materials, devices, and sys…
Neuware
Anbieter: MARZIES Buch- und Medienhandel, Schönwalde-Glien, Deutschland
Applied Scanning Probe Methods XI - Scanning Probe Microscopy Techniques
von Bharat Bhushan Verlag: Springer Berlin,
2009 2008. Gepflegter, sauberer Zustand. 4680341/2
gebraucht, sehr gut
Anbieter: Buchpark GmbH, Trebbin, Deutschland
Applied Scanning Probe Methods XI - Scanning Probe Microscopy Techniques
von Bharat Bhushan Verlag: Springer Berlin,
2009 2008. 4680341/12
gebraucht, sehr gut
Anbieter: Buchpark GmbH, Trebbin, Deutschland
Nichts passendes gefunden?
- ISBN / EAN
- 9783540850366
Link zur Suche kopieren
Speichern Sie Ihre Suche als Auftrag für einen späteren Zeitpunkt und lassen Sie sich bei neu eintreffenden Artikeln automatisch per E-Mail benachrichtigen (optional)!