Neuware
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
von Georges Gielen, Elie Maricau
2013 Gebunden, 216 Seiten, 241mm x 160mm x 15mm, Sprache(n): eng Enables readers to understand long-term reliability of an integrated circuitReviews CMOS unreliability effects, with focus on those that will emerge in future CMOS nodesProvides overview of models for key aging effects, as well as…
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Anbieter: MARZIES Buch- und Medienhandel, Schönwalde-Glien, Deutschland
121,78 EUR
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- ISBN / EAN
- 9781461461623
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