Neuware
AlGaN/GaN HEMTs Reliability. Degradation Modes and Analysis
von Ponky Ivo
2012 Kartoniert, 132 Seiten, 210mm x 148mm x 7mm, Sprache(n): eng AlGaN/GaN HEMTs reliability and stability issues were investigated in dependence on epitaxial design and process modification. DC-Step-Stress-Tests have been performed on wafers as a fast device robustness screening method. As a c…
Neuware
Anbieter: MARZIES Buch- und Medienhandel, Schönwalde-Glien, Deutschland
22,37 EUR
Kostenloser Versand
Nichts passendes gefunden?
- ISBN / EAN
- 9783954042593
Link zur Suche kopieren
Speichern Sie Ihre Suche als Auftrag für einen späteren Zeitpunkt und lassen Sie sich bei neu eintreffenden Artikeln automatisch per E-Mail benachrichtigen (optional)!