Beispielbild für diese ISBNAtomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si?N? Interfaces
von Weronika Walkosz Verlag: Springer US,
2011 2011. Neubindung, Buchschnitt leicht verkürzt, Buchrücken leicht angestoßen 9300983/12
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Beispielbild für diese ISBNAtomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si¿N¿ Interfaces
von Weronika Walkosz
2011 Gebunden, 124 Seiten, 241mm x 160mm x 11mm, Sprache(n): eng Nominated as an outstanding contribution by the University of Illinois - ChicagoOffers fundamental results which influence many high temperature and pressure applicationsProvides findings to offer increased control over the perform…
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- ISBN / EAN
- 9781441978165
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